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检索到 2 条 责任者=恩云飞 的结果    

 


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  1. 中文图书1.集成电路封装可靠性技术 TN4/45

    馆藏复本：2
    可借复本：2     周斌, 恩云飞, 陈思编著
    电子工业出版社 2023.11
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.半导体集成电路的可靠性及评价方法 TN43/31

    馆藏复本：2
    可借复本：1     章晓文, 恩云飞编著
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

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