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题名/责任者:

伪集成电路检测与防护/(美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark(Mohammad) Tehranipoor)，乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，多梅尼克·福特(Domenic Forte)著 李雄伟[等]译

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2022.07

ISBN及定价:

978-7-118-12500-9 精装/CNY125.00

载体形态项:

20,227页:图;24cm

并列正题名:

Counterfeit integrated circuits: detection and avoidance

个人责任者:

(美) 德黑兰尼普尔 (Tehranipoor, Mark) 著

个人责任者:

(美) 吉恩 (Guin, Ujjwal) 著

个人责任者:

(美) 福特 (Forte, Domenic) 著

个人次要责任者:

李雄伟 译

学科主题:

集成电路-检测

中图法分类号:

TN407

中图法分类号:

TN4

一般附注:

装备科技译著出版基金

版本附注:

由Springer出版社授权出版

提要文摘附注:

本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析，并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家，全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题，可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室，以及学术界提供必需的路线图。

使用对象附注:

集成电路监测研究人员

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