检索到 9 条 分类号=TN407 的结果
-
中文图书1.集成电路测试指南 TN4/76
馆藏复本：1
可借复本：1 邬刚,王瑞金,包军林编著
机械工业出版社 2021
(0) 馆藏 -
中文图书2.集成电路测试原理 TN4/59
馆藏复本：1
可借复本：1 戴志坚，王厚军主编
电子科技大学出版社 2023
(0) 馆藏 -
中文图书3.集成电路测试基础 TN4/52
馆藏复本：2
可借复本：2 佛山市联动科技股份有限公司编著
电子工业出版社 2022.7
(0) 馆藏 -
中文图书4.芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界 TN4/47
馆藏复本：2
可借复本：2 刘斌著
电子工业出版社 2018
(0) 馆藏 -
中文图书5.集成电路芯片测试技术 TN4/33
馆藏复本：1
可借复本：1 居水荣，戈益坚主编
西安电子科技大学出版社 2021
(0) 馆藏 -
中文图书6.伪集成电路检测与防护 TN4/29
馆藏复本：2
可借复本：2 (美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark(Mohammad) Tehranipoor)，乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，多梅尼...
国防工业出版社 2022.07
(0) 馆藏 -
中文图书7.集成电路测试技术 TN405/5
馆藏复本：4
可借复本：4 武乾文主编
电子工业出版社 2022.10
(0) 馆藏 -
中文图书8.集成电路开发与测试,初级 TN4/9
馆藏复本：1
可借复本：1 吕坤颐，夏敏磊主编
高等教育出版社 2021.01
(0) 馆藏 -
中文图书9.“芯”想事成:集成电路的封装与测试 TN4/6
馆藏复本：2
可借复本：2 刘子玉著
上海科学普及出版社 2022.10
(0) 馆藏
