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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
硅加工中的表征/Yale E. Strausser[主编]
出版发行项:
哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-5603-4280-1/CNY88.00
载体形态项:
15,240页:图;23cm
并列正题名:
Characterization in silicon processing
丛编项:
材料表征原版系列丛书
个人责任者:
( ) 斯特劳瑟 (Strausser, Yale E.) 主编
学科主题:
半导体工艺-研究-英文
学科主题:
半导体工艺
中图法分类号:
TN305
中图法分类号:
TN3
提要文摘附注:
本书内容包括:材料表征技术在硅外延生长中的应用;多晶硅导体;硅化物;铝和铜基导线;级钨基导体;阻隔性薄膜等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN3/89 5200630563   总馆—新馆成人加工库     非可借 新馆成人加工库
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