MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- 集成电路开发与测试.初级/吕坤颐，夏敏磊主编
- 出版发行项:
- 北京:高等教育出版社,2021.01
- ISBN及定价:
- 978-7-04-055326-0/CNY48.00
- 载体形态项:
- 215页:图;26cm
- 丛编项:
- 集成电路1+X职业技能等级证书系列丛书
- 丛编项:
- 集成电路职业标准建设系列丛书
- 个人责任者:
- 吕坤颐 主编
- 个人责任者:
- 夏敏磊 主编
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试
- 中图法分类号:
- TN402
- 中图法分类号:
- TN407
- 中图法分类号:
- TN4
- 题名责任附注:
- 杭州朗迅科技有限公司组编
- 提要文摘附注:
- 本书是1+X职业技能等级证书配套教材，对应于“集成电路开发与测试”职业技能等级证书，涵盖初级证书相关工作领域，由版职业素养、晶圆制程、晶圆测试、集成电路封装、集成电路测试、集成电路应用6个项目组成，针对见习流片操作员、见习外观检验员、见习测试员、见习生产保障技术员等岗位涉及的工作领域和任务所需的职业技能要求介绍相关理论知识和实操内容。本书可作为“集成电路开发与测试”1+X职业技能等级证书(初级)的培训认证教材，也可作为中职学校及高等职业院校相关实践环节教学用书及集成电路相关行业及企业员工的岗前培训教材，还可供工程技术人员参考使用。
- 使用对象附注:
- 集成电路相关人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN4/9 | 5200013041 | 总馆—产企信息服务中心 | 可借 | 产企信息服务中心 |
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