| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
集成电路测试原理/戴志坚,王厚军主编
出版发行项:
成都:电子科技大学出版社,2023
ISBN及定价:
978-7-5770-0163-0/CNY68.00
载体形态项:
204页:图;26cm
个人责任者:
戴志坚 主编
个人责任者:
王厚军 主编
学科主题:
集成电路-电路测试-高等教育-教材
中图法分类号:
TN407
中图法分类号:
TN4
一般附注:
本科规划教材
提要文摘附注:
本书共六章,内容包括:集成电路测试技术概述,直流参数及模拟集成电路测试,数字集成电路测试,混合信号集成电路测试,ATE系统和DIB设计,测试应用开发。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN4/59 5200066943   总馆—产企信息服务中心     可借 产企信息服务中心
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架