南京江北新区图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

集成电路芯片测试技术/居水荣，戈益坚主编

出版发行项:

西安:西安电子科技大学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-5606-5954-1/CNY35.00

载体形态项:

200页:图;26cm

个人责任者:

居水荣 (1968-) 主编

个人责任者:

戈益坚 主编

学科主题:

集成电路-芯片-测试-高等职业教育-教材

中图法分类号:

TN407

中图法分类号:

TN4

一般附注:

高职高专电子信息类系列教材 “十三五”江苏省高等学校重点教材

提要文摘附注:

本书详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。

豆瓣简介：