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题名/责任者:

芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界/刘斌著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-121-33901-1/CNY99.00

载体形态项:

22,538页;26cm

并列正题名:

Walking guide to SoC verification:the panorama of verification from system to UVM

其它题名:

从系统理论到UVM的验证全视界

个人责任者:

刘斌 (通信技术) 著

学科主题:

集成电路-芯片-验证

中图法分类号:

TN407

中图法分类号:

TN4

相关题名附注:

封面英文题名：A walking guide to SoC verification: the panorama of verification from system to UVM

提要文摘附注:

本书介绍芯片验证，从验证的理论，到System Verilog语言和UVM验证方法学，再到高级验证项目话题。针对芯片验证领域不同级别的验证工程师，给出了由浅入深的技术指南：学习验证理论来认识验证流程和标准，学习System Verilog语言和UVM验证方法学来掌握目前主流的动态验证技术，了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。

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