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检索到 2 条 责任者=龙绪明 的结果    

 


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  1. 中文图书1.芯片封装与测试 TN43/47

    馆藏复本：1
    可借复本：1     关赫，龙绪明，李锋编著
    西北工业大学出版社 2022
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.电子智造工程技术与实践 TH16/8

    馆藏复本：1
    可借复本：1     龙绪明主编
    电子工业出版社 2020.01
    (0) 馆藏

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