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题名/责任者:

现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应/(日)Eshi H. Ibe著 毕津顺,马瑶,王天琦译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-121-35115-0/CNY79.00

载体形态项:

14,210页;26cm

并列正题名:

Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems

丛编项:

国防电子信息技术丛书

个人责任者:

(日) 伊部英治 著

个人次要责任者:

毕津顺 译

个人次要责任者:

马瑶 译

个人次要责任者:

王天琦 译

学科主题:

集成电路-全球环境-辐射效应

学科主题:

电子系统-全球环境-辐射效应

中图法分类号:

TN4

中图法分类号:

TN103

版本附注:

本书简体中文字版专有翻译出版权由John Wiley & Sons,Ltd.授予电子工业出版社

责任者附注:

Eshi H. Ibe,博士,曾任日本日立公司首席研究员,1975年获得日本京都大学物理学士学位,1985年获得大阪大学核工程博士学位。

书目附注:

有书目(第188-196页)

提要文摘附注:

本书主要介绍广泛存在的各种辐射,及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。

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