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- 010 __ |a 978-7-03-027036-8 |b 精装 |d CNY148.00
- 100 __ |a 20100809d2010 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 半导体材料测试与分析 |9 ban dao ti cai liao ce shi yu fen xi |b 专著 |f 杨德仁等著
- 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010
- 215 __ |a 11,381页 |c 图 |d 24cm
- 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版
- 330 __ |a 本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术,涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容:包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱等测试分析技术。
- 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书 |1 035 |a (A100000NLC)002933667
- 701 _0 |a 杨德仁 |9 yang de ren |f (1964-) |4 著
- 801 _0 |a CN |b 110019 |c 20100601
- 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20231121
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