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- 010 __ |a 978-7-121-44351-0 |b 精装 |d CNY128.00
- 100 __ |a 20221118d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 集成电路测试技术 |A ji cheng dian lu ce shi ji shu |b 专著 |f 武乾文主编
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022.10
- 215 __ |a 17,329页 |c 图 |d 24cm
- 225 1_ |a 集成电路系列丛书 |A Ji Cheng Dian Lu Xi Lie Cong Shu |i 集成电路封装测试
- 312 __ |a 封面英文题名:Integrated circuit testing technology
- 330 __ |a 本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章,主要内容包括:集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书,可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。
- 333 __ |a 本书可供集成电路测试等相关领域的科研人员和工程技术人员阅读使用,也可以作为高等院校电子科学与技术、微电子工程等相关专业的教学用书
- 510 1_ |a Integrated circuit testing technology |z eng
- 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 电路测试
- 701 _0 |a 武乾文 |A wu qian wen |4 主编
- 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20221118
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