MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：7
- 题名/责任者:
- 材料电子及中子分析技术/朱和国，黄鸣主编
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2022.12
- ISBN及定价:
- 978-7-121-44710-5/CNY69.00
- 载体形态项:
- 350页:图;26cm
- 个人责任者:
- 朱和国 主编
- 个人责任者:
- 黄鸣 主编
- 学科主题:
- 材料-电子
- 学科主题:
- 材料-中子
- 中图法分类号:
- TB3
- 提要文摘附注:
- 本书首先介绍了晶体学基础、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电子显微分析技术、透射电子显微镜、扫描电镜、电子探针、电子背散射衍射的原理与应用；然后介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及电子能量损失谱等的原理及其应用；最后介绍了原子探针和中子分析技术。
- 使用对象附注:
- 电子材料相关专业人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TB3/71 | 5200010759 | 总馆—产企信息服务中心 | 可借 | 产企信息服务中心 |
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