| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
工业芯片可靠性设计/赵东艳编著
出版发行项:
西安:西安电子科技大学出版社,2023
ISBN及定价:
978-7-5606-6710-2/CNY92.00
载体形态项:
367页:图;26cm
并列正题名:
Integrated circuits design for reliability in industry applications
个人责任者:
赵东艳 编著
学科主题:
印刷电路板(材料)-可靠性设计
中图法分类号:
TM215
中图法分类号:
TM2
一般附注:
国家重点研发计划支持项目
题名责任附注:
北京智芯微电子科技有限公司组编
提要文摘附注:
本书共6章,针对工业芯片在使用环境复杂性和内部结构多样性方面的特点,介绍了其片上可靠性防护的基本原理和工程化设计技术,重点介绍了应对静电与闩锁等电过应力的防护器件、防护电路和防护架构以及针对RF CMOS、功率芯片和异质集成电路等的专用防护方法,还介绍了纳米CMOS器件可靠性模型与仿真。全书总结了国内外在工业芯片可靠性防护设计方面的先进技术与方法,既有系统的基础理论与专业知识,又注重工程经验与实践案例;既具有鲜明的学术先进性,又具备丰富的技术实用性。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TM2/31 5200066883   总馆—产企信息服务中心     可借 产企信息服务中心
TM2/31 5200066884   总馆—产企信息服务中心     可借 产企信息服务中心
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架