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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:4

题名/责任者:
集成电路测试基础/佛山市联动科技股份有限公司编著 谷颜秋主编
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2022.7
ISBN及定价:
978-7-121-43802-8/CNY100.00
载体形态项:
x, 320页:图;26cm
丛编项:
集成电路产业知识赋能工程系列丛书
个人责任者:
谷颜秋 主编
团体次要责任者:
佛山市联动科技股份有限公司 编著
学科主题:
集成电路-电路测试
中图法分类号:
TN407
中图法分类号:
TN4
书目附注:
有书目 (第319-320页)
提要文摘附注:
本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响,自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制,一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法,测试数据分析的常用方法,以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍,并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。
使用对象附注:
可作为集成电路测试工程师的学习教材,或者集成电路自动测试设备应用工程师的基础知识培训教材
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN4/52 5200052188   总馆—产企信息服务中心     可借 产企信息服务中心
TN4/52 5200052189   总馆—产企信息服务中心     可借 产企信息服务中心
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