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题名/责任者:

一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析/张晶威编著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2022.01

ISBN及定价:

978-7-302-58923-5/CNY39.00

载体形态项:

127页:图;24cm

其它题名:

高速电路研发与设计典型故障案例解析

个人责任者:

张晶威 编著

学科主题:

印刷电路-电路设计

中图法分类号:

TN410.2

中图法分类号:

TN41

提要文摘附注:

本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍，通过对电子工程设计中的实际故障案例分析，帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案，内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。

使用对象附注:

本书适合作为从事计算机、通信设备、高端仪器制造等行业的电路设计、开发专业工程师、研究人员的技术参考书，也可以作为电子科学技术、电子工程专业高年级本科生和研究生的参考用书

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